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Advanced STEM Detector 多功能STEM探頭

型號:

配備集成16通道前置放大器,用于讀取探測器的每個通道,且能夠保證都具有很好質量
成像具備非常低噪音
快速響應時間<30ns
前置放大器增益為10e5 V/A
兼容各種類型的PNDetector公司STEM探頭
適配各種型號透射電鏡/掃描電鏡
同時支持BF/LAADF/MAADF/HAADF/DPC多種成像
  • 產品特點
  • 產品應用
  • 產品圖庫
主要技術特色:
提供各種不同幾何結構及分割探頭選擇
同時支持BF/LAADF/MAADF/HAADF/DPC多種成像
支持電壓范圍:5keV~300keV
配備集成16通道前置放大器,用于讀取探測器的每個通道,且能夠保證都具有很好質量
探頭感度高,成像具備非常低噪音
快速響應時間<30ns
前置放大器增益為10e5 V/A
兼容各種類型的PNDetector公司STEM探頭
適配各種型號透射電鏡/掃描電鏡
可選探頭種類:

應用結果:


圖1:含嵌入SiC納米顆粒(10-200 nm)的鎂薄片的FIB薄片,平均原子序數差異非常?。∕g:Z=12,MgO:Z=10, SiC:Z=10),利用PNDetector高級多功能STEM探頭可以同時獲取BF/LAADF/MAADF/HAADF圖像

圖2:35nm薄鈷金屬樣品的DPC成像結果,磁疇結構的方向和強度用不同顏色表示

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