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2020年第十一屆全國FIB技術及學術交流研討會

管理員 發布于:2020-09-16

 

 

 

        受中國電子顯微鏡學會FIB專業委員會委托,2020年第十一屆全國FIB技術及學術交流研討會,由金屬材料強度國家重點實驗室、西安交通大學材料科學與工程研究院和西安開普納信息科技有限責任公司聯合承辦。研討會將邀請本領域知名科學家、研究者和工程師就FIB基礎技術及其在材料科學、生命科學、物理學、化學化工、環境科學等領域中的基礎研究和應用研究等最新進展做大會報告,同時也邀請相關設備廠商做FIB相關的最新發展介紹及深度技術交流。

       上海微納作為本次大會的合作贊助商,將于2020年9月29日為用戶帶來Fischione FIB樣品精修解決方案的主題報告.
        報告人:衡潘
        同期我司將于2020年9月28日15:00~17:20 在西安交通大學舉辦Fischione NanoMill FIB樣品精修系統應用培訓第一期-西安站
        培訓地點:西安交通大學-興慶校區材料學院電鏡平臺
        培訓人:王佳慶
 
 
NanoMill設備簡介
 
 
 
       革命性超低能量微束離子束制樣設備,其采用惰性氣體為氣源,能夠有效去除非晶層及離子注入問題,具備離子成像功能,能夠高精度定位去除非晶層,是FIB制備樣品后續精修絕佳制樣工具。
     針對當下很多先進功能材料研究來說,透射電鏡是最佳獲取材料微觀結構與物理特性的分析手段。伴隨著納米科技研究的進步以及半導體制程的持續減小,制備出非常薄、無任何人為假象的樣品變得越來越關鍵。這些需求對于當下具備亞埃級分辨率帶球差矯正器及單色器的透射電鏡來說更為關鍵。
 
        NanoMill微束定點離子減薄儀采用極低能量同時經過聚焦的氬離子束,來制備超高質量的透射電鏡樣品。
  •  超低能量的惰性氣體離子源

  •  

     具備掃描功能的聚焦離子束,最小離子束斑1微米

     

  •  

     去除非晶層的同時 ,不產生任何二次沉積效應

     

  •  

     特別適合FIB制備的樣品的非晶層去除

     

  •  

     能夠增強傳統離子減薄制備的樣品的成像質量

     

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     可在室溫或低溫下進行制樣修復,最低溫度可到-170 ℃ 以下

     

  •  

     快速換樣設計,滿足高通量樣品制備的需求

     

  •  

     計算機控制,所有操作均可可程序化設定,使用方便

     

  •  無污染無油真空系統


 

 

 

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